Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/5830Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Андрюхин, А.И. | - |
| dc.date.accessioned | 2012-02-27T10:04:24Z | - |
| dc.date.available | 2012-02-27T10:04:24Z | - |
| dc.date.issued | 2008-07-04 | - |
| dc.identifier.citation | Андрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202. | en_US |
| dc.identifier.issn | 1996-1588 | - |
| dc.identifier.uri | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830 | - |
| dc.description.abstract | А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method. | en_US |
| dc.publisher | Донецкий национальный технический университет | en_US |
| dc.subject | генерация тестов | en_US |
| dc.subject | МОП-структура | en_US |
| dc.subject | дефекты МОП-схем | en_US |
| dc.title | Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне | en_US |
| dc.title.alternative | Test Generation for MOS-structures on switch level | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| Розташовується у зібраннях: | Випуск 9 (132) Статті співробітників кафедри ПМІ | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 08aaimpu.pdf | 136,73 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.