Donetsk National Technical University
Please use this identifier to cite or link to this item:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/5830| Title: | Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне |
| Other Titles: | Test Generation for MOS-structures on switch level |
| Authors: | Андрюхин, А.И. |
| Keywords: | генерация тестов МОП-структура дефекты МОП-схем |
| Issue Date: | 4-Jul-2008 |
| Publisher: | Донецкий национальный технический университет |
| Citation: | Андрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202. |
| Abstract: | А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method. |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830 |
| ISSN: | 1996-1588 |
| Appears in Collections: | Випуск 9 (132) Статті співробітників кафедри ПМІ |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 08aaimpu.pdf | 136,73 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.