Please use this identifier to cite or link to this item:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2840| Title: | Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне |
| Other Titles: | Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level |
| Authors: | Андрюхин, А.И. |
| Keywords: | цифровое моделирование переключательный уровень параллельная генерация тестов parallel test generation switch-level digital simulation |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | ДВНЗ «ДонНТУ» |
| Citation: | Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79 |
| Series/Report no.: | Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11 |
| Abstract: | Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89 |
| Description: | А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840 |
| Appears in Collections: | Випуск 11(164) Статті співробітників кафедри ПМІ |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне.pdf | 295,78 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.