Please use this identifier to cite or link to this item:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2840
Title: | Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне |
Other Titles: | Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level |
Authors: | Андрюхин, А.И. |
Keywords: | цифровое моделирование переключательный уровень параллельная генерация тестов parallel test generation switch-level digital simulation |
Issue Date: | 2010 |
Publisher: | ДВНЗ «ДонНТУ» |
Citation: | Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79 |
Series/Report no.: | Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11 |
Abstract: | Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89 |
Description: | А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method |
URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840 |
Appears in Collections: | Випуск 11(164) Статті співробітників кафедри ПМІ |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне.pdf | 295,78 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.