Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2840
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorАндрюхин, А.И.-
dc.date.accessioned2011-12-05T13:02:14Z-
dc.date.available2011-12-05T13:02:14Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationПараллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79en_US
dc.identifier.other004.051-054-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840-
dc.descriptionА method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed methoden_US
dc.description.abstractРассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89en_US
dc.publisherДВНЗ «ДонНТУ»en_US
dc.relation.ispartofseriesІнформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11-
dc.subjectцифровое моделированиеen_US
dc.subjectпереключательный уровеньen_US
dc.subjectпараллельная генерация тестовen_US
dc.subjectparallel test generation switch-level digital simulationen_US
dc.titleПараллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровнеen_US
dc.title.alternativeParallel Test Generation for MOS-structures on switch levelen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Випуск 11(164)
Статті співробітників кафедри ПМІ



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.