Параллельная  генерация  тестов  для  МОП-структур  на  переключательном уровне

Андрюхин, А.И.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2840

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Андрюхин, А.И.	-
dc.date.accessioned	2011-12-05T13:02:14Z	-
dc.date.available	2011-12-05T13:02:14Z	-
dc.date.issued	2010	-
dc.identifier.citation	Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79	en_US
dc.identifier.other	004.051-054	-
dc.identifier.uri	http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840	-
dc.description	А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method	en_US
dc.description.abstract	Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89	en_US
dc.publisher	ДВНЗ «ДонНТУ»	en_US
dc.relation.ispartofseries	Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11	-
dc.subject	цифровое моделирование	en_US
dc.subject	переключательный уровень	en_US
dc.subject	параллельная генерация тестов	en_US
dc.subject	parallel test generation switch-level digital simulation	en_US
dc.title	Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне	en_US
dc.title.alternative	Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level	en_US
dc.type	Article	en_US
Appears in Collections:	Випуск 11(164) Статті співробітників кафедри ПМІ

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне.pdf		295,78 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record

Donetsk National Technical University