1. Електронний архів ДонНТУ м.Покровськ
  2. Наукові видання ДонНТУ
  3. Наукові періодичні видання
  4. Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка
  5. Випуск 1
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15860
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorЗинченко, Ю.Е.-
dc.contributor.authorZinchenko, J.-
dc.date.accessioned2012-11-08T12:25:51Z-
dc.date.available2012-11-08T12:25:51Z-
dc.date.issued1997-
dc.identifier.citationНаукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997en_US
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15860-
dc.descriptionIn the first part of the article a mathematical model of Junctional faults including static and[pattern - sensitive faults is described. In the second part the testability conditions of the functional faults of RAM for an arbitrary test are obtained. On the basis of these conditions the formulas for calculations of the number of pseudorandom test patterns of RAM providing 100% average faults are obtained. The results of faults modeling of RAM are presented.en_US
dc.publisherДонНТУen_US
dc.subjectdeterministic techniqueen_US
dc.subjectmodel of Junctional faultsen_US
dc.subjectfunctional faults of RAMen_US
dc.subjectтест ОЗУen_US
dc.subjectдетерминированная оценкаen_US
dc.subjectдлинаen_US
dc.titleДЕТЕРМИНИРОВАНАЯ ОЦЕНКА ДЛИНЫ ПСЕВДОСЛУЧАЙНОГО ТЕСТА ОЗУen_US
dc.title.alternativeA deterministic technique for the calculation of the number of pseudorandom test patterns of RAM.en_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Випуск 1
Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
176-187.pdf8,03 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати базовий опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.