Please use this identifier to cite or link to this item:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/14879
Title: | СЖАТИЕ СПИСКА НЕИСПРАВНОСТЕЙ С ПОМОЩЬЮ ГЕНЕТИЧЕСКОГО АЛГОРИТМА |
Authors: | Иванов, Д.Е. Скобцов, В.Ю. |
Keywords: | синхронные схемы алгоритм сжатия digital circuits generation procedure algorithm for the reduction |
Issue Date: | 2001 |
Publisher: | ДонНТУ |
Citation: | Наукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: “Обчислювальна техніка та автоматизація”. Випуск 25 |
Abstract: | Предложен алгоритм сжатия списка неисправностей для синхронных последовательностных схем, основанный но генетической стратегии |
Description: | An algorithm for the reduction of fault list that is used in test generation procedure for sequential digital circuits is suggested. For solving this problem is adopted genetic approach |
URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/14879 |
Appears in Collections: | Випуск 25 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
161-167.pdf | 5,47 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.