Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/14879Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Иванов, Д.Е. | - |
| dc.contributor.author | Скобцов, В.Ю. | - |
| dc.date.accessioned | 2012-09-14T09:48:39Z | - |
| dc.date.available | 2012-09-14T09:48:39Z | - |
| dc.date.issued | 2001 | - |
| dc.identifier.citation | Наукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: “Обчислювальна техніка та автоматизація”. Випуск 25 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/14879 | - |
| dc.description | An algorithm for the reduction of fault list that is used in test generation procedure for sequential digital circuits is suggested. For solving this problem is adopted genetic approach | en_US |
| dc.description.abstract | Предложен алгоритм сжатия списка неисправностей для синхронных последовательностных схем, основанный но генетической стратегии | en_US |
| dc.publisher | ДонНТУ | en_US |
| dc.subject | синхронные схемы | en_US |
| dc.subject | алгоритм сжатия | en_US |
| dc.subject | digital circuits | en_US |
| dc.subject | generation procedure | en_US |
| dc.subject | algorithm for the reduction | en_US |
| dc.title | СЖАТИЕ СПИСКА НЕИСПРАВНОСТЕЙ С ПОМОЩЬЮ ГЕНЕТИЧЕСКОГО АЛГОРИТМА | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| Розташовується у зібраннях: | Випуск 25 | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 161-167.pdf | 5,47 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.