1. Електронний архів ДонНТУ м.Покровськ
  2. Наукові видання ДонНТУ
  3. Наукові періодичні видання
  4. Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка
  5. Випуск 93
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15796
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorАндрюхин, А.И.-
dc.contributor.authorAndruckin, A.I.-
dc.date.accessioned2012-11-06T07:05:17Z-
dc.date.available2012-11-06T07:05:17Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.citationНаукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 93, Донецк, ДонНТУ, 2005en_US
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15796-
dc.descriptionThe rewiew of the articles on diagnosis of MOS Open Defects t is submitteden_US
dc.publisherДонНТУen_US
dc.subjectMOS -circuitsen_US
dc.subjectOpen Defectsen_US
dc.subjectМОП-схемаen_US
dc.subjectобрыв транзистораen_US
dc.subjectнеисправностьen_US
dc.subjectdiagnosisen_US
dc.titleОБЗОР МЕТОДОВ ТЕСТИРОВАНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ «ОБРЫВ ТРАНЗИСТОРА» В МОП-СХЕМАХen_US
dc.title.alternativeMethods of the Diagnosis of Open Defects in MOS -circuitsen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Випуск 93

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
196-204.pdf6,04 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати базовий опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.