1. Електронний архів ДонНТУ м.Покровськ
  2. Наукові видання ДонНТУ
  3. Наукові періодичні видання
  4. Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка
  5. Випуск 93
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15796
Назва: ОБЗОР МЕТОДОВ ТЕСТИРОВАНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ «ОБРЫВ ТРАНЗИСТОРА» В МОП-СХЕМАХ
Інші назви: Methods of the Diagnosis of Open Defects in MOS -circuits
Автори: Андрюхин, А.И.
Andruckin, A.I.
Ключові слова: MOS -circuits
Open Defects
МОП-схема
обрыв транзистора
неисправность
diagnosis
Дата публікації: 2005
Видавництво: ДонНТУ
Бібліографічний опис: Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 93, Донецк, ДонНТУ, 2005
Опис: The rewiew of the articles on diagnosis of MOS Open Defects t is submitted
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15796
Розташовується у зібраннях:Випуск 93

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
196-204.pdf6,04 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.