1. Електронний архів ДонНТУ м.Покровськ
  2. Наукові видання ДонНТУ
  3. Наукові періодичні видання
  4. Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка
  5. Випуск 93
Please use this identifier to cite or link to this item: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15796
Title: ОБЗОР МЕТОДОВ ТЕСТИРОВАНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ «ОБРЫВ ТРАНЗИСТОРА» В МОП-СХЕМАХ
Other Titles: Methods of the Diagnosis of Open Defects in MOS -circuits
Authors: Андрюхин, А.И.
Andruckin, A.I.
Keywords: MOS -circuits
Open Defects
МОП-схема
обрыв транзистора
неисправность
diagnosis
Issue Date: 2005
Publisher: ДонНТУ
Citation: Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 93, Донецк, ДонНТУ, 2005
Description: The rewiew of the articles on diagnosis of MOS Open Defects t is submitted
URI: http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15796
Appears in Collections:Випуск 93

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
196-204.pdf6,04 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.