Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/1453| Назва: | Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits |
| Автори: | Ivanov, Dmitry Skobtsov, Yurij Skobtsov, Vadim Ubar, Raimond |
| Ключові слова: | digital circuit genetic algorithm sequential circuits BIST test generation functional approach |
| Дата публікації: | 2004 |
| Видавництво: | Proc. of 9th Biennial Baltic Electronics Conf., BEC 2004 |
| Бібліографічний опис: | Y. A. Skobtsov, D. E. Ivanov, V. Y. Skobtsov, R. Ubar. Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits. In Proc. of 9th Biennial Baltic Electronics Conf., BEC 2004 (Tallinn, Oct. 2004), pp. 229-232. Tallinn Univ. of Techn., 2004. |
| Короткий огляд (реферат): | In the paper an evolutionary approach for functional testing of digital circuits is considered. A genetic algorithm for testing digital multiplier is proposed. The main target of the proposed method is to generate as short as possible functional test wih as high as possible fault coverage with the goal to use the generated patterns as the input data for embedded functional BIST. Experimental data of the program realization is also represented. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1453 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| bec2004.pdf | 161,04 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.