Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/5844
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorКорченко, А.А.-
dc.contributor.authorЗинченко, Ю.Е.-
dc.date.accessioned2012-02-27T10:49:48Z-
dc.date.available2012-02-27T10:49:48Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.citationНаукові праці Донецького національного технічного університету. Серiя «Проблеми моделювання та автоматизації проектування» (МАП-2011). Випуск: 10 (197) - Донецьк: ДонНТУ. - 2011. – 290 с.en_US
dc.identifier.issn2074-7888-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5844-
dc.description.abstractРассматривается одна из основных задач диагностики – построение теста цифрового устройства. Для адаптивного подхода построения теста, описанного авторами ранее, предлагается модификация для параллельных систем. Параллельная версия алгоритма позволяет сократить время на построение теста, а также повысить его качество. Приведены результаты экспериментальных исследований для набора схем пакета ISCAS’89. Розглядається одна з основних задач діагностики – побудова тесту цифрового пристрою. Для адаптивного підходу побудови тесту, описаного авторами раніше, пропонується модифікація для паралельних систем. Паралельна версія алгоритму дозволяє скоротити час на побудову тесту, а також підвищити його якість. Наведено результати експериментальних досліджень для набору схем пакета ISCAS'89. We considered one of the main diagnostic problems – building digital devices test. We proposed a modification for parallel systems of adaptive approach to construct a test that had been described by the authors previously. A parallel version of the algorithm reduces the time to build a test and improve its quality. The experimental results for a set package of schemes ISCAS'89 are included.en_US
dc.language.isootheren_US
dc.publisherДонецький національний технічний університетen_US
dc.relation.ispartofseriesПроблеми моделювання та автоматизації проектування;-
dc.subjectпсевдослучайное тестированиеen_US
dc.subjectцифровая схемаen_US
dc.subjectграф состоянийen_US
dc.subjectпараллельные вычисленияen_US
dc.subjectпсевдовипадкове тестуванняen_US
dc.subjectцифрова схемаen_US
dc.subjectграф станівen_US
dc.subjectпаралельні обчисленняen_US
dc.subjectpseudo-random testingen_US
dc.subjectdigital circuiten_US
dc.subjectthe graph of statesen_US
dc.subjectparallel computingen_US
dc.titleПАРАЛЛЕЛЬНАЯ ГЕНЕРАЦИЯ АДАПТИВНЫХ ПСЕВДОСЛУЧАЙНЫХ ТЕСТОВen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Випуск 10 (197)
Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
11kaaant.pdf858,85 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.