Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/27299
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorКуценко, В.П.-
dc.contributor.authorKutsenko, V.P.-
dc.date.accessioned2014-08-26T13:38:02Z-
dc.date.available2014-08-26T13:38:02Z-
dc.date.issued2014-06-
dc.identifier.citationНаукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: Обчислювальна техніка та автоматизація. Випуск 1(26). - Донецьк: ДонНТУ, 2014. - 234 сen_US
dc.identifier.issn2075-4272-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/27299-
dc.descriptionThe paper offers a mathematical design of the processes of non-destructive microwave control of porous dielectric materials in production technologies on the example of equivalent chart under the influence of casual signals on linear stationary chains. We calculated the dependences of spectral density of the noise power of the material on the sizes of its structure defects, on its temperature and on the changes of impedance. We studied the interconnection between the porosity of the material and spectral density of the power of its radioactive emissions.en_US
dc.description.abstractЗапропоновано математичне моделювання властивостей пористих діелектричних матеріалів при використанні мікрохвильових експертних систем у технологіях виробництва на прикладі еквівалентної схеми. Розраховано залежності спектральної щільності потужності шумів матеріалу від розмірів дефектів структури, від його температури при фіксованих розмірах дефекту, зміни хвильового опору від розмірів дефекту в його структурі. Проведені дослідження взаємозв’язку пористості матеріалу з спектральною щільністю потужності його власних радіотеплових випромінювань. Предложено математическое моделирование свойств пористых диэлектрических материалов при использовании микроволновых экспертных систем в технологиях производства на примере эквивалентной схемы. Рассчитаны зависимости спектральной плотности мощности шумов материала от размеров дефектов структуры, от его температуры при фиксированных размерах дефекта, изменения волнового сопротивления от размеров дефекта в его структуре. Проведенные исследования взаимосвязи пористости материала со спектральной плотностью мощности его собственных радиотепловых излученийen_US
dc.publisherДонНТУen_US
dc.relation.ispartofseriesНаукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: Обчислювальна техніка та автоматизація. Випуск 1(26). - Донецьк: ДонНТУ, 2014. - С. 210-217.;-
dc.subjectмоделюванняen_US
dc.subjectнеруйнівний мікрохвильовий контрольen_US
dc.subjectспектральна щільність потужностіen_US
dc.subjectдефекти структуриen_US
dc.subjectдефекты структурыen_US
dc.subjectспектральная плотность мощностиen_US
dc.subjectнеразрушающий микроволновой контрольen_US
dc.subjectмоделированиеen_US
dc.subjectdesignen_US
dc.subjectnon-destructive microwave controlen_US
dc.subjectspectral closeness of poweren_US
dc.subjectdefects of structureen_US
dc.titleМАТЕМАТИЧНЕ МОДЕЛЮВАННЯ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ПРИ ВИКОРИСТАННІ МІКРОХВИЛЬОВИХ ЕКСПЕРТНИХ СИСТЕМen_US
dc.title.alternativeМатематическое моделирование свойств диэлектрических материалов при использовании микроволновых экспертных системen_US
dc.title.alternativeMathematical design of the properties of dielectric materials when using microwave consulting modelsen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Випуск 1(26)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Kutsenko_1.PDF1,3 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.