Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/24997
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Надточий, В. А. | - |
dc.contributor.author | Уколов, А. И. | - |
dc.contributor.author | Попов, О. К. | - |
dc.contributor.author | Перебайло, С. А. | - |
dc.date.accessioned | 2014-03-07T08:32:21Z | - |
dc.date.available | 2014-03-07T08:32:21Z | - |
dc.date.issued | 2012 | - |
dc.identifier.citation | Надточій В.О. Уколов О.І. Попов О.К. Перебайло С.А. Измерение параметров рекомбинации неравновесных носителей заряда в приповерностных слоях монокристалического Ge // Збірник науковіх праць фізико-математичного факультету СДПУ. [За матеріалами Всеукраїнської науково-практичної конференції "Актуальні питання науки і освіти"]. - Слов'янськ: СДПУ, 2012 - № 2 – 219 с | en_US |
dc.identifier.isbn | 978-966-1554-82-4 | - |
dc.identifier.uri | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/24997 | - |
dc.description | The construction of device for determination of time of life of non-equilibrium carriers of charge is considered in the приповерхностном imperfect layer of single-crystal germanium on results measuring of зффективного time of life, time of life in обьеме and speed of superficial recombination. | en_US |
dc.description.abstract | Рассмотрена конструкция устройства для определения времени жизни неравновесных но-сителей заряда в приповерхностном дефектном слое монокристаллического германия по результатам измерений зффективного времени жизни, времени жизни в обьеме и скорости поверхностной рекомбинации. | en_US |
dc.language.iso | other | en_US |
dc.publisher | Збірник науковіх праць фізико-математичного факультету СДПУ. [За матеріалами Всеукраїнської науково-практичної конференції "Актуальні питання науки і освіти"]. - Слов'янськ: СДПУ, 2012 - № 2 – 219 с. С 87 – 93. | en_US |
dc.subject | Полупроводник | en_US |
dc.subject | semiconductor | en_US |
dc.subject | эффективное время жизни | en_US |
dc.subject | effective time of life | en_US |
dc.subject | скорость поверхностной рекомбинации | en_US |
dc.subject | speed of superficial recombination | en_US |
dc.title | Измерение параметров рекомбинации неравновесных носителей заряда в приповерностных слоях монокристалического Ge. | en_US |
dc.type | Article | en_US |
Розташовується у зібраннях: | Публікації кафедри "Загальнонаукові дисципліни" |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Изменение параметров рекомбинации неравновесных.pdf | 3,61 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.