Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/24591
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorСкобцов, Ю.А.-
dc.contributor.authorИванов, Д.Е.-
dc.contributor.authorSkobtcov, Y.A.-
dc.contributor.authorIvanov, D.Y.-
dc.date.accessioned2014-01-21T07:16:02Z-
dc.date.available2014-01-21T07:16:02Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.citationНаукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: “Обчислювальна техніка та автоматизація”. Випуск 74 / Редкол.: Башков Є.О. (голова) та ін. — Донецьк: ДонНТУ, 2004.en_US
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/24591-
dc.description.abstractIn paper an evolutionary approach for functional testing of digital circuits is considered. A genetic algorithm for digital multiplier testing is proposed. A construction of genetic algorithm is proposed: coding of individual, population and input sequence, building of genetic operators (selection, crossingover, mutation). Experimental data of program realization is also presented.en_US
dc.publisherДонНТУen_US
dc.subjectцифровая схемаen_US
dc.subjectdigital circuiten_US
dc.subjectгенетический алгоритмen_US
dc.subjectgenetic algorithmen_US
dc.subjectоператоры кроссинговераen_US
dc.subjectcrossingover operatorsen_US
dc.subjectоператоры мутацииen_US
dc.subjectmutation operatorsen_US
dc.subjectфитнесс-функцияen_US
dc.subjectfitness functionen_US
dc.subjectцифровой умножительen_US
dc.subjectdigital multiplieren_US
dc.titleЭволюционный подход к функциональному тестированию цифровых схемen_US
dc.title.alternativeEvolutionary approach for digital circuits functional testingen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Випуск 74

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
134-139.pdf4,15 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
sp_lit 134-139.pdf54,51 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.