Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15497
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Андрюхин, А.И. | - |
dc.contributor.author | Andruckin, A.I. | - |
dc.date.accessioned | 2012-10-16T07:58:17Z | - |
dc.date.available | 2012-10-16T07:58:17Z | - |
dc.date.issued | 2003 | - |
dc.identifier.citation | Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 70, Донецк, ДонНТУ, 2003 | en_US |
dc.identifier.uri | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15497 | - |
dc.description.abstract | The rewiew of the articles on modeling and testing of (he MOS-circuits is submitted | en_US |
dc.publisher | ДонНТУ | en_US |
dc.subject | МОП-структура | en_US |
dc.subject | переключательный уровень | en_US |
dc.subject | MOS-circuits | en_US |
dc.title | МОДЕЛИРОВАНИЕ И ТЕСТИРОВАНИЕ МОП-СТРУКТУР НА ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЬНОМ УРОВНЕ: ОСНОВНЫЕ НАПРАВЛЕНИЯ, МОДЕЛИ И ПРОБЛЕМЫ | en_US |
dc.title.alternative | Modeling and testing of MOS-structures at a switching level: the basic directions, model and problem | en_US |
dc.type | Article | en_US |
Розташовується у зібраннях: | Випуск 70 |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
117-127.pdf | 7,06 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.