АДАПТИВНЫЙ ПОДХОД К ГЕНЕРАЦИИ ПСЕВДОСЛУЧАЙНЫХ ТЕСТОВ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ

Abstract

Предлагается адаптивный подход к генерации псевдослучайных тестов цифровых устройств как альтернатива традиционному псевдослучайному тестированию (ПСТ). В отличие от последнего предлагаемый подход подразумевает построение на «линейном участке» ПСТ так называемого адаптивного графа объекта диагностики, что является своеобразным способом распознавания объекта, и «блужданию» по этому графу на «нелинейном участке» с целью повышения эффективности ПСТ. Приводятся результаты экспериментальных исследований на типовых элементах замены (ТЭЗ), проводится сравнительный анализ традиционного и предлагаемого подходов ПСТ.The article discusses a method of the pseudo-random tests generation for combinational and sequential circuits. To construct a test a graph of states and transitions of the circuit is used. In the generation process the problem of object recognition is considered, as well as the problem of finding optimal ways of switching states of the circuit in the construction of the test. The results of experimental studies on a set of typical circuits are included.