Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/1449| Назва: | Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits |
| Автори: | Ivanov, Dmitry Skobtsov, Yurij El-Khatib |
| Ключові слова: | genenic algorithms distributed calculations test generation fault simulation digital circuits |
| Дата публікації: | 2006 |
| Видавництво: | Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference. |
| Бібліографічний опис: | Skobtsov Y.A., El-Khatib, Ivanov D.E. Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits // Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference.-Tallinn Technical University,2006.-p.281-284. |
| Короткий огляд (реферат): | The distributed genetic algorithms are considered for problem of test generation. The different forms of parallelization of genetic algorithms are investigated for test generation. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1449 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| skobtsov-bec2006.pdf | 194,45 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.