Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/1449Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Ivanov, Dmitry | - |
| dc.contributor.author | Skobtsov, Yurij | - |
| dc.contributor.author | El-Khatib | - |
| dc.date.accessioned | 2011-10-12T07:04:55Z | - |
| dc.date.available | 2011-10-12T07:04:55Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.identifier.citation | Skobtsov Y.A., El-Khatib, Ivanov D.E. Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits // Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference.-Tallinn Technical University,2006.-p.281-284. | en_US |
| dc.identifier.uri | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1449 | - |
| dc.description.abstract | The distributed genetic algorithms are considered for problem of test generation. The different forms of parallelization of genetic algorithms are investigated for test generation. | en_US |
| dc.language.iso | en | en_US |
| dc.publisher | Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference. | en_US |
| dc.subject | genenic algorithms | en_US |
| dc.subject | distributed calculations | en_US |
| dc.subject | test generation | en_US |
| dc.subject | fault simulation | en_US |
| dc.subject | digital circuits | en_US |
| dc.title | Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| skobtsov-bec2006.pdf | 194,45 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.