Комплексная оценка эффективности компактного тестирования / Дяченко О.Н., Шишацкий Д.А; Донец. гос. техн. ун-т. - Донецк, 1998. – 12 с. Библиогр. 5 назв. – Рус. - Деп.в ГНТБ Украины 02.06.98 № 263-УК98

Abstract

Рассматриваются вопросы комплексной оценки эффективности компактного тестирования комбинационных схем (КС), которая учитывает обнаруживающие способности анализатора тестовых реакций (АТР), структуру генератора тестовых последовательностей (ГТП) и характер распределения ошибок в тестовой реакции КС. На основе доказательства неравенства нулю сигнатуры конъюнкции с произвольным рангом при исчерпывающем тестировании КС и реализации ГТП и АТР в виде регистров сдвига с линейными обратными связями (РСЛОС) с одинаковыми порождающими полиномами получены выводы: необходимое условие сигнатурной тестируемости КС полностью выполняется для порождающих полиномов РСЛОС ГТП и АТР соответственно h(x) и (x+1)h(x); использование одинаковых порождающих полиномов РСЛОС ГТП и АТР для исчерпывающего тестирования программируемой логической матрицы позволяет обнаружить все одиночные неисправности в блоке И этой матрицы. Полученные результаты могут найти применение при реализации встроенного или внешнего компактного тестирования цифровых схем.