Please use this identifier to cite or link to this item:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/19451
Title: | Исследование генераторов тестов схем встроенного контроля |
Authors: | Зинченко Ю.Е., Тарасенко А.Н. |
Keywords: | Test Built-in-test Digital Device Signature Analysis |
Issue Date: | 1984 |
Publisher: | Ереван, Цахкадзор |
Citation: | Тарасенко А.Н., Зинченко Ю.Е.. Исследование генераторов тестов схем встроенного контроля // Контроль изделий микроэлектроники и применение микропроцессорных средств вычислительной техники: Тез. докл. Всесоюзн. наун. техн. семинара. - Цахкадзор, 27-30 ноября 1984. - Ереван, 1984. - С. 65 |
URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/19451 |
Appears in Collections: | Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Зинченко ЮЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ГЕНЕРАТОРОВ ТЕСТОВ СХЕМ ВСТРОЕННОГО КОНТРОЛЯ Ереван_84.pdf | 273,88 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.