Компактное тестирование цифровых схем с локализацией пакетов ошибок на основе укороченных кодов Файра

Abstract

Рассматриваются вопросы реализации компактного тестирования с локализацией ошибок в выходной тестовой реакции проверяемой цифровой схемы. Для сигнатурного анализа с локализацией пакетов ошибок предлагается применение укороченных кодов Файра. Рассмотрены достоинства применения укороченных кодов для целей компактного тестирования: сокращение времени процесса формирования компактной оценки и времени локализации пакета ошибок; обеспечение принципиальной возможности применения кодов Файра для локализации больших пакетов ошибок. Предложены варианты аппаратной реализации компактного тестирования: сигнатурные анализаторы с фиксированным и изменяемым параметром укорачивания длины анализируемой последовательности. Предлагаемый метод компактного тестирования и устройства, его реализующие, могут найти применение для встроенного самотестирования или внешнего тестового оборудования средств вычислительной техники.