Please use this identifier to cite or link to this item:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/10788
Title: | Особливості поверхневої дифузії у напівпровідниках |
Other Titles: | Features of surface diffusion in semiconductors |
Authors: | Уколов, О.І. Любченко, І.В Уколова, Ю.В. |
Keywords: | Дифузія Diffusion напівпровідник semiconductor поверхня surface |
Issue Date: | 2010 |
Publisher: | София. «Бял ГРАД БГ» ООД. |
Citation: | Уколов О.І., Любченко І.В, Уколова Ю.В. Особливості поверхневої дифузії у напівпровідниках//Материалы за 6 – а международна научна практична конференция, «Новини на научния про-грес», - 2010. Том 6. Технологии. Математика. Съвременни тено-логии на информации. Физика. Физическа култура и спорт. с. 69 - 71 |
Abstract: | В даній роботі зроблена теоретична оцінка енергії міграції вакансій у приповерхневих шарах кристала напівпровідника з урахуванням наявності механічних напружень та ультразвукового опромінення. |
Description: | This work made a theoretical assessment of energy migration of vacancies in the сrystal semiconductor surface layers with the presence of mechanical stress and ultrasonic irradiation. |
URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/10788 |
Appears in Collections: | Публікації кафедри "Загальнонаукові дисципліни" |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Особливості поверхневої дифузії, її експериментальні дослідження.pdf | 166,08 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.