Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/4370
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Андрюхин, Александр Иванович | - |
dc.contributor.author | Andruckin, Alexandr Ivanovich | - |
dc.date.accessioned | 2012-01-27T13:17:55Z | - |
dc.date.available | 2012-01-27T13:17:55Z | - |
dc.date.issued | 2011-01 | - |
dc.identifier.issn | 0204–3572 | - |
dc.identifier.uri | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4370 | - |
dc.description.abstract | À method for pseudorandom test generation on switch level is described. Experimental results of investigation on Iscas-89 circuits are presented to demonstrate the ef fectiveness of the proposed method. | en_US |
dc.language.iso | other | en_US |
dc.publisher | Electronic Modeling | en_US |
dc.subject | switch | en_US |
dc.subject | level | en_US |
dc.subject | CMOS | en_US |
dc.subject | diagnosis | en_US |
dc.subject | test | en_US |
dc.subject | random | en_US |
dc.title | Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем | en_US |
dc.type | Article | en_US |
Розташовується у зібраннях: | Персональні архіви докторантів кафедри Статті співробітників кафедри ПМІ |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Andruckin_ISSN_0204–3572_ Electronic Modeling_ 2011_ V_ 33_1.pdf | 147,57 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.