Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/4370
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorАндрюхин, Александр Иванович-
dc.contributor.authorAndruckin, Alexandr Ivanovich-
dc.date.accessioned2012-01-27T13:17:55Z-
dc.date.available2012-01-27T13:17:55Z-
dc.date.issued2011-01-
dc.identifier.issn0204–3572-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4370-
dc.description.abstractÀ method for pseudorandom test generation on switch level is described. Experimental results of investigation on Iscas-89 circuits are presented to demonstrate the ef fectiveness of the proposed method.en_US
dc.language.isootheren_US
dc.publisherElectronic Modelingen_US
dc.subjectswitchen_US
dc.subjectlevelen_US
dc.subjectCMOSen_US
dc.subjectdiagnosisen_US
dc.subjecttesten_US
dc.subjectrandomen_US
dc.titleМетод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схемen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Персональні архіви докторантів кафедри
Статті співробітників кафедри ПМІ

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Andruckin_ISSN_0204–3572_ Electronic Modeling_ 2011_ V_ 33_1.pdf147,57 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.