Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/2840| Назва: | Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне |
| Інші назви: | Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level |
| Автори: | Андрюхин, А.И. |
| Ключові слова: | цифровое моделирование переключательный уровень параллельная генерация тестов parallel test generation switch-level digital simulation |
| Дата публікації: | 2010 |
| Видавництво: | ДВНЗ «ДонНТУ» |
| Бібліографічний опис: | Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79 |
| Серія/номер: | Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11 |
| Короткий огляд (реферат): | Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89 |
| Опис: | А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840 |
| Розташовується у зібраннях: | Випуск 11(164) Статті співробітників кафедри ПМІ |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне.pdf | 295,78 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.