Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/1445| Назва: | Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits |
| Автори: | Ivanov, Dmitry Skobtsov, Vadim Skobtsov, Yurij |
| Ключові слова: | evolutionary computations genetic algorithm sequential circuits test generation parallel algorithm islands model |
| Дата публікації: | 2008 |
| Видавництво: | Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems, September 18-19, 2008, Freiberg, Germany |
| Бібліографічний опис: | Y.A. Skobtsov, D.E. Ivanov, V.Y. Skobtsov Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits // Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems, September 18-19, 2008, Freiberg, Germany.- pp.213-218. |
| Короткий огляд (реферат): | The genetic algorithms of test generation and fault simulation for digital circuits are considered. The main modes of genetic algorithm parallelization for test generation and simulation are represented - “worker-farmer”, “island model”. The program implementation and computer experiments of proposed methods are discussed. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1445 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Distributed evolutionary test generation.pdf | 104,8 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.