Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/4370| Назва: | Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем |
| Автори: | Андрюхин, Александр Иванович Andruckin, Alexandr Ivanovich |
| Ключові слова: | switch level CMOS diagnosis test random |
| Дата публікації: | січ-2011 |
| Видавництво: | Electronic Modeling |
| Короткий огляд (реферат): | À method for pseudorandom test generation on switch level is described. Experimental results of investigation on Iscas-89 circuits are presented to demonstrate the ef fectiveness of the proposed method. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4370 |
| ISSN: | 0204–3572 |
| Розташовується у зібраннях: | Персональні архіви докторантів кафедри Статті співробітників кафедри ПМІ |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Andruckin_ISSN_0204–3572_ Electronic Modeling_ 2011_ V_ 33_1.pdf | 147,57 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.