Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/4124| Назва: | Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур |
| Інші назви: | Switching simulation and diagnosis of the basic model faults of CMOS structures |
| Автори: | Андрюхин, А.И. |
| Ключові слова: | дефект МОП-схема переключательный анализ МОП-структура BGP fault MOS- scheme switching analysis MOS- structure |
| Дата публікації: | 18-чер-2011 |
| Видавництво: | Донецкий национальный технический университет |
| Бібліографічний опис: | А.И. Андрюхин. Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур // Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 13 (185), Донецк, ДонНТУ, 2011. – С. 54-65. |
| Короткий огляд (реферат): | Review of fault models is presented in the first part of article. Examples of the switching analysis of MOS structures are considered. The importance of BGP to simulate faults of MOS structures at the present stage is presented. |
| Опис: | Представлен обзор основных дефектов МОП-схем. Рассматриваются примеры переключательного анализа МОП-структур. Представлена важность BGP для моделирования неисправностей МОП-структур на современном этапе. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4124 |
| ISSN: | ISSN 1996-1588 |
| Розташовується у зібраннях: | Випуск 13 (185) Статті співробітників кафедри ПМІ |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2_02.pdf | 825,24 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.