Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/1757Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Дяченко, Олег Николаевич | - |
| dc.date.accessioned | 2011-11-01T20:07:44Z | - |
| dc.date.available | 2011-11-01T20:07:44Z | - |
| dc.date.issued | 1998-04 | - |
| dc.identifier.citation | Дяченко О.Н. Эффективность сигнатурного анализа в цифровых схемах с самотестированием// Электрон. моделирование, 1998.- 20, №4.-С.79-87 | en_US |
| dc.identifier.issn | 0204-3572 | - |
| dc.identifier.uri | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1757 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрен метод аналитического расчета компактных оценок в случае применения минимальных порождающих полиномов для регистров сдвига с линейными обратными связями. Получена простая оценка эффективности компактного тестирования для генераторов тестовых наборов и анализаторов тестовых реакций кратной разрядности. | en_US |
| dc.language.iso | other | en_US |
| dc.publisher | Эффективность сигнатурного анализа в цифровых схемах с самотестированием | en_US |
| dc.relation.ispartofseries | Электрон. моделирование;20, №4 | - |
| dc.subject | компактное тестирование | en_US |
| dc.subject | минимальный полином | en_US |
| dc.title | Эффективность сигнатурного анализа в цифровых схемах с самотестированием | en_US |
| dc.title.alternative | Efficiency of Signature Analysis in Digital Circuits with Self-Testing | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Dyachenko EMN 98 P.pdf | 93,63 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.