Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15864
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorДяченко, О.Н.-
dc.contributor.authorГерасимов, А.Н.-
dc.contributor.authorDjаchenko, O.N.-
dc.contributor.authorGerasimov, A.N.-
dc.date.accessioned2012-11-08T12:34:26Z-
dc.date.available2012-11-08T12:34:26Z-
dc.date.issued1997-
dc.identifier.citationНаукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997en_US
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15864-
dc.descriptionProblems on the using of linear shift feedback registers (LSFR) based on four-valued logic for compact testing digital circuits are considered. The algorithm for determination of primitive polynomials on GF(4) is suggested. A table of some primitive polynomials on GF(4) is presented. The advantages of LSFR GF(4) as compared with LSFR GF(2) is described The obtained results may be of use to self-testig circuit design, compact testing built-in testing of digital circuits on the basis two-valued as well as four-valued logic.en_US
dc.publisherДонНТУen_US
dc.subjectlinear shiften_US
dc.subjectfeedback registersen_US
dc.subjectfour-valued logicen_US
dc.subjectкомпактное тестированиеen_US
dc.subjectчетырехзначная логикаen_US
dc.subjectцифровые кругооборотыen_US
dc.titleКОМПАКТНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ НА ОСНОВЕ ЧЕТЫРЕХЗНАЧНОЙ ЛОГИКИen_US
dc.title.alternativeCompact testing on the basis four-valued logic.en_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Випуск 1

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
193-197.pdf3,55 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.