1. Електронний архів ДонНТУ м.Покровськ
  2. Наукові видання ДонНТУ
  3. Наукові періодичні видання
  4. Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка
  5. Випуск 93
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15792
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorБарашко, А.С.-
dc.contributor.authorBarashko, A.S.-
dc.date.accessioned2012-11-06T06:54:26Z-
dc.date.available2012-11-06T06:54:26Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.citationНаукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 93, Донецк, ДонНТУ, 2005en_US
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15792-
dc.descriptionIt is deduced a formula for calculation of the fault detection probability of synchronous sequential circuit (SSC) as function of the random test length. The lower and asymptotical estimations of this function are found and they for specific SSC are calculated.en_US
dc.publisherДонНТУen_US
dc.subjectasymptotical estimationsen_US
dc.subjectsynchronous sequential circuiten_US
dc.subjectдискретные устройстваen_US
dc.subjectнеисправностьen_US
dc.subjectdigital deviceen_US
dc.titleОЦЕНКИ ФУНКЦИИ ВЕРОЯТНОСТИ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕИСПРАВНОСТИ ДИСКРЕТНОГО УСТРОЙСТВАen_US
dc.title.alternativeFunction estimations of the fault detection probability of digital deviceen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Випуск 93

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
167-174.pdf5,17 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати базовий опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.