Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15413
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorБеляев, А.О.-
dc.date.accessioned2012-10-14T17:05:37Z-
dc.date.available2012-10-14T17:05:37Z-
dc.date.issued2012-09-19-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15413-
dc.description.abstractМоделирование элементов измерительного канала температуры средств измерения, с целью прогнозирования его метрологических характеристик, позволят, оперируя параметрами моделей, добиваться минимизации суммарной погрешности измерения. Доклад посвящен описанию полученных в ходе исследования дискретных моделей и их программной реализации в среде разработки приложений LabView.en_US
dc.publisherДонецкий национальный технический университетen_US
dc.relation.ispartofseriesИнформатика и компьютерные технологии;VIII-
dc.titleМоделирование процессов съема и обработки сигналов NTC терморезисторов в среде разработки приложений LabViewen_US
dc.typeArticleen_US
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
5_Беляев.pdf1,07 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.