Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15413
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Беляев, А.О. | - |
dc.date.accessioned | 2012-10-14T17:05:37Z | - |
dc.date.available | 2012-10-14T17:05:37Z | - |
dc.date.issued | 2012-09-19 | - |
dc.identifier.uri | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15413 | - |
dc.description.abstract | Моделирование элементов измерительного канала температуры средств измерения, с целью прогнозирования его метрологических характеристик, позволят, оперируя параметрами моделей, добиваться минимизации суммарной погрешности измерения. Доклад посвящен описанию полученных в ходе исследования дискретных моделей и их программной реализации в среде разработки приложений LabView. | en_US |
dc.publisher | Донецкий национальный технический университет | en_US |
dc.relation.ispartofseries | Информатика и компьютерные технологии;VIII | - |
dc.title | Моделирование процессов съема и обработки сигналов NTC терморезисторов в среде разработки приложений LabView | en_US |
dc.type | Article | en_US |
Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
5_Беляев.pdf | 1,07 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.