Skip navigation
Главная страница
Просмотр
Разделы и коллекции
Просмотр ресурсов по:
Даты випуска
Авторы
Заголовки
Темы
Справка
Язык
English
русский
українська
Зарегистрированным:
Мой архив ресурсов
Обновления на e-mail
Редактировать профиль
Донецкий национальный технический университет
Електронний архів ДонНТУ м.Покровськ
Поиск
Поиск:
Весь архив электронных ресурсов
Архів публікацій до 2014 року
Випускні кваліфікаційні роботи (проекти)
Відділ міжнародних зв’язків
Гірничий факультет
Інститут комп'ютерних наук і технологій
Навчально-науковий індустріальний інститут
Наукові видання ДонНТУ
Наукові праці ДонНТУ
Факультет Економіко-гуманітарний
Факультет Комп'ютерно-інформаційних технологій та автоматизації
Факультет машинобудування, електроінженерії та хімічних технологій
запрос
Текущие фильтры:
Название
Автор
Тема
по дате выпуска
Has File(s)
Равно
Содержит
ID
Не равно
Не содержит
Не ID
Начать новый поиск
Добавить фильтры:
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Название
Автор
Тема
по дате выпуска
Has File(s)
Равно
Содержит
ID
Не равно
Не содержит
Не ID
Результаты 1-10 из 11.
назад
1
2
дальше
Найденные ресурсы:
Дата выпуска
Название
Автор(ы)
2006
Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits
Ivanov, Dmitry
;
Skobtsov, Yurij
;
El-Khatib
2004
Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits
Ivanov, Dmitry
;
Skobtsov, Yurij
;
Skobtsov, Vadim
;
Ubar, Raimond
2008
Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits
Ivanov, Dmitry
;
Skobtsov, Vadim
;
Skobtsov, Yurij
1997
Time Optimization for Test Generation
ANDRYUKHIN, Alexandr Ivanovich,Андрюхин А.И.
2005
Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BIST
Skobtsov, Y.A.
;
Ivanov, D.E.
;
Skobtsov, V.Y.
;
Ubar, R.
;
Raik, Y.
2009
Взаимодействие компонент в распределённых генетических алгоритмах генерации тестов
Иванов, Д.Е.
;
Чебанов, П.А.
;
Ivanov, D.E.
;
Сhebanov, P.A.
;
Іванов, Д.Є.
;
Чебанов, П.О.
2011-05
THE DISTINGUISHING FUNCTIONS IN TEST GENERATION OF DIGITAL SEQUENTIAL CIRCUITS WITH MULTIPLE OBSERVATION TIME STRATEGY
Скобцов, Юрий Александрович
;
Скобцов, Вадим Юрьевич
2013
Еволюційні методи генерації тестів для неконстантних несправностей
НАССЕР ІЯД К.М.
;
НАССЕР ИЯД К.М.
;
NASSER Iyad K.M.
2011
Evolutionary test generation methods for digital devices
Skobtsov, Yuriy
;
Skobtsov, Vadim
2002
Приминение адаптивных генетических алгоритмов для генерации тестов цифровых схем
Скобцов, Ю.А.
;
Иванов, Д.Е.
;
Скобцов, В.Ю.
;
Закусило, С.А.
Просмотр
Автор
3
Ivanov, Dmitry
3
Skobtsov, Vadim
3
Skobtsov, Yurij
2
Ivanov, D.E.
2
Иванов, Д.Е.
1
ANDRYUKHIN, Alexandr Ivanovich,Ан...
1
El-Khatib
1
NASSER Iyad K.M.
1
Raik, Y.
1
Skobtsov, V.Y.
.
дальше >
Тема
5
genetic algorithm
3
digital circuits
3
sequential circuits
3
генерация тестов
2
BIST
2
functional approach
2
genetic algorithms
2
генетические алгоритмы
1
ATPG
1
circuits description language
.
дальше >
по дате выпуска
3
2010 - 2013
6
2000 - 2009
2
1990 - 1999
Has File(s)
11
true