Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/8577
Название: Evolutionary test generation methods for digital devices
Авторы: Skobtsov, Yuriy
Skobtsov, Vadim
Ключевые слова: digital devices
genetic algorithm
test generation
ATPG
Дата публикации: 2011
Издательство: Springer Verlag
Библиографическое описание: In: Design of digital systems and devices (eds. M.Adamski et al.). – Berlin Heidelberg: Springer Verlag. - Lecture notes in electrical engineering, 2011, vol. 79, - p.331-361
Серия/номер: Lecture notes in electrical engineering;vol. 79
Краткий осмотр (реферат): In this chapter, we will discuss how evolutionary methods can be used for test generation of digital circuits.There is presented test generation genetic algorithms for combinational circuits.The evolutionary methods of test generation for sequential circuits are described.Distributed test generation methods are presented.Hierarchical genetic algorithm of test generation for highly sequential circuitsis proposed. Genetic programming in test generation of microprocessor systems is used.
Описание: This paper presents new perspective approach to DS test generation that is based on using evolutionary algorithms and hierarchical solution. It was shown that given approach could be effectively applied to test generation at basic DS re-presentation levels:FSM and structural, for highly sequential circuits, 2-levels hie-rarchical genetic algorithm is applicable;MS level – GP-based approach is applied.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/8577
Располагается в коллекциях:Наукові монографії

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Skobtsov chapter 13 Springer.pdf443,1 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.