Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/6180
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorИванов, Д.Е.-
dc.contributor.authorIvanov, E.-
dc.contributor.authorІванов, Д.Є.-
dc.date.accessioned2012-03-01T19:58:59Z-
dc.date.available2012-03-01T19:58:59Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationНаукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: “Обчислювальна техніка та автоматизація”. Випуск 169(18)/ Редкол.: Башков Є.О. (голова) та ін. — Донецьк: ДонНТУ, 2010en_US
dc.identifier.otherУДК 681.518-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/6180-
dc.descriptionIn this paper a new approach for solving the problem of the optimization of the power dissipation under test sequence application is proposed. This approach is based on the redundancy of the test sequences and consists of the steps: redundant test generation, evaluating power dissipation for generated test sequences and construction of the subset of sequences with optimal parameters. The last stage is based on the genetic algorithm. Also we give the results of the computer experiments on the ISCAS-89 benchmark circuits that show the effectiveness of the proposed approach.en_US
dc.description.abstractВ статье предлагается новый подход к решению задачи минимизации рассеивания тепла входных тестовых последовательностей. Этот подход основан на понятии избыточного тестирования и состоит из трёх этапов: генерация избыточных тестовых наборов, оценка их параметра рассеивания тепла и выбор оптимального множества подпоследовательностей. Решение задачи последнего этапа основано на генетическом алгоритме. Также приведены результаты машинных экспериментов на схемах из международного каталога ISCAS-89, которые показывают эффективность пред-ложенного подхода.en_US
dc.publisherДонНТУen_US
dc.subjectсинхронная последовательностная схемаen_US
dc.subjectрассеивание теплаen_US
dc.subjectизбыточная генерация тестовen_US
dc.subjectгенетический алгоритмen_US
dc.subjectsynchronous sequential circuiten_US
dc.subjectpower dissipationen_US
dc.subjectredundancy test generationen_US
dc.subjectgenetic algorithmen_US
dc.subjectсинхронна послідовністна схемаen_US
dc.subjectрозсіювання теплаen_US
dc.subjectнадлишкова генерація тестівen_US
dc.subjectгенетичний алгоритмen_US
dc.titleГенетический алгоритм оптимизации рассеивания тепловой энергии входных тестовых последовательностейen_US
dc.title.alternativeA genetic algorithm for the optimization of the power dissipation under test sequence applicationen_US
dc.title.alternativeГенетичний алгоритм оптимізації розсіювання теплової енергії вхідних тестових послідовностейen_US
dc.typeArticleen_US
Appears in Collections:Випуск 18 (169)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Ivanov.pdf488,48 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.