Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/5830
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАндрюхин, А.И.-
dc.date.accessioned2012-02-27T10:04:24Z-
dc.date.available2012-02-27T10:04:24Z-
dc.date.issued2008-07-04-
dc.identifier.citationАндрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202.en_US
dc.identifier.issn1996-1588-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830-
dc.description.abstractА method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method.en_US
dc.publisherДонецкий национальный технический университетen_US
dc.subjectгенерация тестовen_US
dc.subjectМОП-структураen_US
dc.subjectдефекты МОП-схемen_US
dc.titleГенерация тестов для МОП-структур на переключательном уровнеen_US
dc.title.alternativeTest Generation for MOS-structures on switch levelen_US
dc.typeArticleen_US
Appears in Collections:Випуск 9 (132)
Статті співробітників кафедри ПМІ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
08aaimpu.pdf136,73 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.