Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/5830
Назва: Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Інші назви: Test Generation for MOS-structures on switch level
Автори: Андрюхин, А.И.
Ключові слова: генерация тестов
МОП-структура
дефекты МОП-схем
Дата публікації: 4-лип-2008
Видавництво: Донецкий национальный технический университет
Бібліографічний опис: Андрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202.
Короткий огляд (реферат): А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830
ISSN: 1996-1588
Розташовується у зібраннях:Випуск 9 (132)
Статті співробітників кафедри ПМІ

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
08aaimpu.pdf136,73 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.