Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/5830
Название: Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Другие названия: Test Generation for MOS-structures on switch level
Авторы: Андрюхин, А.И.
Ключевые слова: генерация тестов
МОП-структура
дефекты МОП-схем
Дата публикации: 4-июл-2008
Издательство: Донецкий национальный технический университет
Библиографическое описание: Андрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202.
Краткий осмотр (реферат): А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830
ISSN: 1996-1588
Располагается в коллекциях:Випуск 9 (132)
Статті співробітників кафедри ПМІ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
08aaimpu.pdf136,73 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.