Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/5830
Title: Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Other Titles: Test Generation for MOS-structures on switch level
Authors: Андрюхин, А.И.
Keywords: генерация тестов
МОП-структура
дефекты МОП-схем
Issue Date: 4-Jul-2008
Publisher: Донецкий национальный технический университет
Citation: Андрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202.
Abstract: А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method.
URI: http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830
ISSN: 1996-1588
Appears in Collections:Випуск 9 (132)
Статті співробітників кафедри ПМІ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
08aaimpu.pdf136,73 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.