Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/5830| Назва: | Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне |
| Інші назви: | Test Generation for MOS-structures on switch level |
| Автори: | Андрюхин, А.И. |
| Ключові слова: | генерация тестов МОП-структура дефекты МОП-схем |
| Дата публікації: | 4-лип-2008 |
| Видавництво: | Донецкий национальный технический университет |
| Бібліографічний опис: | Андрюхин А.И. Генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне// Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 9 (132), Донецк, ДонНТУ, 2008. – С.195-202. |
| Короткий огляд (реферат): | А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/5830 |
| ISSN: | 1996-1588 |
| Розташовується у зібраннях: | Випуск 9 (132) Статті співробітників кафедри ПМІ |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 08aaimpu.pdf | 136,73 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.