Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/4370
Название: Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем
Авторы: Андрюхин, Александр Иванович
Andruckin, Alexandr Ivanovich
Ключевые слова: switch
level
CMOS
diagnosis
test
random
Дата публикации: янв-2011
Издательство: Electronic Modeling
Краткий осмотр (реферат): À method for pseudorandom test generation on switch level is described. Experimental results of investigation on Iscas-89 circuits are presented to demonstrate the ef fectiveness of the proposed method.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4370
ISSN: 0204–3572
Располагается в коллекциях:Докторанти кафедри
Статті співробітників кафедри ПМІ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Andruckin_ISSN_0204–3572_ Electronic Modeling_ 2011_ V_ 33_1.pdf147,57 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.