Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/4124
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАндрюхин, А.И.-
dc.date18.06.2011-
dc.date.accessioned2012-01-16T09:30:49Z-
dc.date.available2012-01-16T09:30:49Z-
dc.date.issued2011-06-18-
dc.identifier.citationА.И. Андрюхин. Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур // Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 13 (185), Донецк, ДонНТУ, 2011. – С. 54-65.en_US
dc.identifier.issnISSN 1996-1588-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4124-
dc.descriptionПредставлен обзор основных дефектов МОП-схем. Рассматриваются примеры переключательного анализа МОП-структур. Представлена важность BGP для моделирования неисправностей МОП-структур на современном этапе.en_US
dc.description.abstractReview of fault models is presented in the first part of article. Examples of the switching analysis of MOS structures are considered. The importance of BGP to simulate faults of MOS structures at the present stage is presented.en_US
dc.publisherДонецкий национальный технический университетen_US
dc.subjectдефектen_US
dc.subjectМОП-схемаen_US
dc.subjectпереключательный анализen_US
dc.subjectМОП-структураen_US
dc.subjectBGPen_US
dc.subjectfaulten_US
dc.subjectMOS- schemeen_US
dc.subjectswitching analysisen_US
dc.subjectMOS- structureen_US
dc.titleПереключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структурen_US
dc.title.alternativeSwitching simulation and diagnosis of the basic model faults of CMOS structuresen_US
dc.typeArticleen_US
Appears in Collections:Випуск 13 (185)
Статті співробітників кафедри ПМІ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2_02.pdf825,24 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.