Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/4124
Название: Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур
Другие названия: Switching simulation and diagnosis of the basic model faults of CMOS structures
Авторы: Андрюхин, А.И.
Ключевые слова: дефект
МОП-схема
переключательный анализ
МОП-структура
BGP
fault
MOS- scheme
switching analysis
MOS- structure
Дата публикации: 18-июн-2011
Издательство: Донецкий национальный технический университет
Библиографическое описание: А.И. Андрюхин. Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур // Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 13 (185), Донецк, ДонНТУ, 2011. – С. 54-65.
Краткий осмотр (реферат): Review of fault models is presented in the first part of article. Examples of the switching analysis of MOS structures are considered. The importance of BGP to simulate faults of MOS structures at the present stage is presented.
Описание: Представлен обзор основных дефектов МОП-схем. Рассматриваются примеры переключательного анализа МОП-структур. Представлена важность BGP для моделирования неисправностей МОП-структур на современном этапе.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4124
ISSN: ISSN 1996-1588
Располагается в коллекциях:Випуск 13 (185)
Статті співробітників кафедри ПМІ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2_02.pdf825,24 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.