Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/4124
Title: Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур
Other Titles: Switching simulation and diagnosis of the basic model faults of CMOS structures
Authors: Андрюхин, А.И.
Keywords: дефект
МОП-схема
переключательный анализ
МОП-структура
BGP
fault
MOS- scheme
switching analysis
MOS- structure
Issue Date: 18-Jun-2011
Publisher: Донецкий национальный технический университет
Citation: А.И. Андрюхин. Переключательное моделирование и диагностирование основных моделей неисправностей КМОП-структур // Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,вып. 13 (185), Донецк, ДонНТУ, 2011. – С. 54-65.
Abstract: Review of fault models is presented in the first part of article. Examples of the switching analysis of MOS structures are considered. The importance of BGP to simulate faults of MOS structures at the present stage is presented.
Description: Представлен обзор основных дефектов МОП-схем. Рассматриваются примеры переключательного анализа МОП-структур. Представлена важность BGP для моделирования неисправностей МОП-структур на современном этапе.
URI: http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/4124
ISSN: ISSN 1996-1588
Appears in Collections:Випуск 13 (185)
Статті співробітників кафедри ПМІ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2_02.pdf825,24 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.