Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/2840
Название: Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Другие названия: Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level
Авторы: Андрюхин, А.И.
Ключевые слова: цифровое моделирование
переключательный уровень
параллельная генерация тестов
parallel test generation switch-level digital simulation
Дата публикации: 2010
Издательство: ДВНЗ «ДонНТУ»
Библиографическое описание: Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79
Серия/номер: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11
Краткий осмотр (реферат): Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89
Описание: А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840
Располагается в коллекциях:Випуск 11(164)
Статті співробітників кафедри ПМІ



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.