Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/2840
Title: Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне
Other Titles: Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level
Authors: Андрюхин, А.И.
Keywords: цифровое моделирование
переключательный уровень
параллельная генерация тестов
parallel test generation switch-level digital simulation
Issue Date: 2010
Publisher: ДВНЗ «ДонНТУ»
Citation: Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / Андрюхин А.И.//Научные труды ДонНТУ. Серия «Информатика, кибернетика и вычислительная техника». – 2010. – Вып. 11(164). – С. 75-79
Series/Report no.: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11
Abstract: Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89
Description: А method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method
URI: http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840
Appears in Collections:Випуск 11(164)
Статті співробітників кафедри ПМІ



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.