Please use this identifier to cite or link to this item: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/1757
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДяченко, Олег Николаевич-
dc.date.accessioned2011-11-01T20:07:44Z-
dc.date.available2011-11-01T20:07:44Z-
dc.date.issued1998-04-
dc.identifier.citationДяченко О.Н. Эффективность сигнатурного анализа в цифровых схемах с самотестированием// Электрон. моделирование, 1998.- 20, №4.-С.79-87en_US
dc.identifier.issn0204-3572-
dc.identifier.urihttp://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1757-
dc.description.abstractРассмотрен метод аналитического расчета компактных оценок в случае применения минимальных порождающих полиномов для регистров сдвига с линейными обратными связями. Получена простая оценка эффективности компактного тестирования для генераторов тестовых наборов и анализаторов тестовых реакций кратной разрядности.en_US
dc.language.isootheren_US
dc.publisherЭффективность сигнатурного анализа в цифровых схемах с самотестированиемen_US
dc.relation.ispartofseriesЭлектрон. моделирование;20, №4-
dc.subjectкомпактное тестированиеen_US
dc.subjectминимальный полиномen_US
dc.titleЭффективность сигнатурного анализа в цифровых схемах с самотестированиемen_US
dc.title.alternativeEfficiency of Signature Analysis in Digital Circuits with Self-Testingen_US
dc.typeArticleen_US
Appears in Collections:Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Dyachenko EMN 98 P.pdf93,63 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.