Машинно-аналитический способ расчета случайного теста константных неисправностей цифровых устройств

Abstract

Предлагается способ определения зависимости длины случайного теста от вероятности обнаружения константных неисправностей (КН) цифровых устройств (ЦУ) по концепции «наихудшей неисправности», основанный на сочетании аналитического алгоритма определения списка труднотестируемых КН и машинного моделирования для определении наихудшей КН из труднотестируемых. В качестве исходной информации выступает логическая схема комбинационной части ЦУ и вероятности следования сигналов случайного теста. Пропонується спосіб визначення залежності довжини випадкового тесту від ймовірності виявлення константних несправностей (КН) цифрових пристроїв (ЦУ) по концепції «найгіршої несправності», заснований на поєднанні аналітичного алгоритму визначення списку важкотестуємих КН і машинного моделювання для визначення найгіршої КН з важкотестуємих. В якості вихідної інформації виступає логічна схема комбінаційної частини ЦУ і ймовірності проходження сигналів випадкового тесту. The paper provides a method of defining the dependence of the length of a random test on the probability of detecting stuck-at faults of digital device according to the concept of “worst failure”, based on a combination of analytical methods. As the initial information the logic combination of digital device and the signals probabilities of a random test is considered.