Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15864
Назва: КОМПАКТНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ НА ОСНОВЕ ЧЕТЫРЕХЗНАЧНОЙ ЛОГИКИ
Інші назви: Compact testing on the basis four-valued logic.
Автори: Дяченко, О.Н.
Герасимов, А.Н.
Djаchenko, O.N.
Gerasimov, A.N.
Ключові слова: linear shift
feedback registers
four-valued logic
компактное тестирование
четырехзначная логика
цифровые кругообороты
Дата публікації: 1997
Видавництво: ДонНТУ
Бібліографічний опис: Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997
Опис: Problems on the using of linear shift feedback registers (LSFR) based on four-valued logic for compact testing digital circuits are considered. The algorithm for determination of primitive polynomials on GF(4) is suggested. A table of some primitive polynomials on GF(4) is presented. The advantages of LSFR GF(4) as compared with LSFR GF(2) is described The obtained results may be of use to self-testig circuit design, compact testing built-in testing of digital circuits on the basis two-valued as well as four-valued logic.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15864
Розташовується у зібраннях:Випуск 1

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
193-197.pdf3,55 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.