Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/15864
Название: КОМПАКТНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ НА ОСНОВЕ ЧЕТЫРЕХЗНАЧНОЙ ЛОГИКИ
Другие названия: Compact testing on the basis four-valued logic.
Авторы: Дяченко, О.Н.
Герасимов, А.Н.
Djаchenko, O.N.
Gerasimov, A.N.
Ключевые слова: linear shift
feedback registers
four-valued logic
компактное тестирование
четырехзначная логика
цифровые кругообороты
Дата публикации: 1997
Издательство: ДонНТУ
Библиографическое описание: Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997
Описание: Problems on the using of linear shift feedback registers (LSFR) based on four-valued logic for compact testing digital circuits are considered. The algorithm for determination of primitive polynomials on GF(4) is suggested. A table of some primitive polynomials on GF(4) is presented. The advantages of LSFR GF(4) as compared with LSFR GF(2) is described The obtained results may be of use to self-testig circuit design, compact testing built-in testing of digital circuits on the basis two-valued as well as four-valued logic.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15864
Располагается в коллекциях:Випуск 1

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
193-197.pdf3,55 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.