Донецький національний технічний університет
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15860| Назва: | ДЕТЕРМИНИРОВАНАЯ ОЦЕНКА ДЛИНЫ ПСЕВДОСЛУЧАЙНОГО ТЕСТА ОЗУ |
| Інші назви: | A deterministic technique for the calculation of the number of pseudorandom test patterns of RAM. |
| Автори: | Зинченко, Ю.Е. Zinchenko, J. |
| Ключові слова: | deterministic technique model of Junctional faults functional faults of RAM тест ОЗУ детерминированная оценка длина |
| Дата публікації: | 1997 |
| Видавництво: | ДонНТУ |
| Бібліографічний опис: | Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997 |
| Опис: | In the first part of the article a mathematical model of Junctional faults including static and[pattern - sensitive faults is described. In the second part the testability conditions of the functional faults of RAM for an arbitrary test are obtained. On the basis of these conditions the formulas for calculations of the number of pseudorandom test patterns of RAM providing 100% average faults are obtained. The results of faults modeling of RAM are presented. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15860 |
| Розташовується у зібраннях: | Випуск 1 Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 176-187.pdf | 8,03 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.