Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/15860
Название: ДЕТЕРМИНИРОВАНАЯ ОЦЕНКА ДЛИНЫ ПСЕВДОСЛУЧАЙНОГО ТЕСТА ОЗУ
Другие названия: A deterministic technique for the calculation of the number of pseudorandom test patterns of RAM.
Авторы: Зинченко, Ю.Е.
Zinchenko, J.
Ключевые слова: deterministic technique
model of Junctional faults
functional faults of RAM
тест ОЗУ
детерминированная оценка
длина
Дата публикации: 1997
Издательство: ДонНТУ
Библиографическое описание: Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 1, Донецк, ДонНТУ, 1997
Описание: In the first part of the article a mathematical model of Junctional faults including static and[pattern - sensitive faults is described. In the second part the testability conditions of the functional faults of RAM for an arbitrary test are obtained. On the basis of these conditions the formulas for calculations of the number of pseudorandom test patterns of RAM providing 100% average faults are obtained. The results of faults modeling of RAM are presented.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15860
Располагается в коллекциях:Випуск 1
Наукові публікації кафедри комп'ютерної інженерії

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
176-187.pdf8,03 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.