Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/15796
Название: ОБЗОР МЕТОДОВ ТЕСТИРОВАНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ «ОБРЫВ ТРАНЗИСТОРА» В МОП-СХЕМАХ
Другие названия: Methods of the Diagnosis of Open Defects in MOS -circuits
Авторы: Андрюхин, А.И.
Andruckin, A.I.
Ключевые слова: MOS -circuits
Open Defects
МОП-схема
обрыв транзистора
неисправность
diagnosis
Дата публикации: 2005
Издательство: ДонНТУ
Библиографическое описание: Наукові праці Донецького національного технічного університету, серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка»,випуск 93, Донецк, ДонНТУ, 2005
Описание: The rewiew of the articles on diagnosis of MOS Open Defects t is submitted
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15796
Располагается в коллекциях:Випуск 93

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
196-204.pdf6,04 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.