Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://ea.donntu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15687
Назва: Метод исследования и оценки методической погрешности ДПФ измерительных каналов с высокоразрядными АЦП
Інші назви: A method of Research and an Assessment of a Methodical Error of DPF of Measuring Channels with High-Digit ADC
Метод дослідження та оцінки методичної похибки ДПФ вимірювальних каналів з високорозрядним АЦП
Автори: Штепа, А.А.
Shtepa, A.A.
Штепа, О.А.
Ключові слова: информационно-измерительная система
дискретное преобразование Фурье
методическая погрешность
эффект Гиббса
моделирование
LabVIEW
information and measuring system
Discrete Fourier Transformation
methodical error
Gibbs's effect
modeling
інформаційно-вимірювальна система
дискретне перетворення Фур'є
методична похибка
ефект Гіббса
моделювання
Дата публікації: 2012
Видавництво: Донецький національний технічний університет
Бібліографічний опис: Наукові праці Донецького національного технічного університету. Серія: Обчислювальна техніка та автоматизація. Випуск 23 (201). - Донецьк, ДонНТУ, 2012. С - 203-209
Серія/номер: Обчислювальна техніка та автоматизація;23(201)
Короткий огляд (реферат): Исследована методическая погрешность дискретного преобразования Фурье (ДПФ) обусловленная эффектом Гиббса для информационно-измерительных систем (ИИС) на основе АЦП средней и высокой разрядности. Разработан и реализован в среде LabVIEW метод ее оценки, выполнен сравнительный анализ ряда методов ее уменьшения для измерительных каналов ИИС.
Опис: The methodical error of the discrete Fourier transform (DFT) due to the effect of Gibbs for the information-measuring systems (IMS) based on the medium and high bit depth ADC is researched. The method of its assessment is developed and realized in the environment of LabVIEW, the comparative analysis of a number of methods of its reduction for the IMS measuring channels is made.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/15687
ISSN: 2075-4272
Розташовується у зібраннях:Випуск 23 (201)
Наукові публікації кафедри електронної техніки

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
3_11_Shtepa.pdf529,5 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.