Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/1453
Название: Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits
Авторы: Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Yurij
Skobtsov, Vadim
Ubar, Raimond
Ключевые слова: digital circuit
genetic algorithm
sequential circuits
BIST
test generation
functional approach
Дата публикации: 2004
Издательство: Proc. of 9th Biennial Baltic Electronics Conf., BEC 2004
Библиографическое описание: Y. A. Skobtsov, D. E. Ivanov, V. Y. Skobtsov, R. Ubar. Evolutionary approach to the functional test generation for digital circuits. In Proc. of 9th Biennial Baltic Electronics Conf., BEC 2004 (Tallinn, Oct. 2004), pp. 229-232. Tallinn Univ. of Techn., 2004.
Краткий осмотр (реферат): In the paper an evolutionary approach for functional testing of digital circuits is considered. A genetic algorithm for testing digital multiplier is proposed. The main target of the proposed method is to generate as short as possible functional test wih as high as possible fault coverage with the goal to use the generated patterns as the input data for embedded functional BIST. Experimental data of the program realization is also represented.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1453
Располагается в коллекциях:Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
bec2004.pdf161,04 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.