Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://ea.donntu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/1450
Назва: Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits
Автори: Ivanov, Dmitry
Skobtsov, Yurij
El-Khatib
Ключові слова: digital circuit
genetic algorithm
fault simulation
parallel simulation
multi-core processo
islands model
Дата публікації: 2006
Видавництво: Proceedings of IEEE East-West Design&Test Workshop (EWDT’06).
Бібліографічний опис: Skobtsov Y.A., El-Khatib, Ivanov D.E. Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits // Proceedings of IEEE East-West Design&Test Workshop (EWDT’06).- 2006: Sochi.- p.89-94.
Короткий огляд (реферат): Fault simulation is on of the most highly compute-intensive task in the technical diagnostics. One of the ways to speed-up this process is a parallelization on the calculation cluster. In this paper a distributed algorithm for fault simulation of digital circuits is presented. It is based on the well-known «master-slave» approach in which one processor is nominating as a master and rules all calculation on the all slave’s processors. To reach the maximal utilization of the processors in the cluster it is used schema with static fault list partitioning.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/1450
Розташовується у зібраннях:Наукові статті кафедри автоматизованих систем управління

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Distributed Fault Simulation and Genetic Test Generation of Digital Circuits.pdf178,75 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.